发明名称 |
广视野表面缺陷检测装置 |
摘要 |
本实用新型提供一种广视野表面缺陷检测装置,包括一个底座和固定在底座上的立柱,还包括:用于承载并夹持晶圆的承载机构,该承载机构装配在底座上,能够沿X轴移动,并能够带动晶圆水平转动;检测机构,所述检测机构装配在立柱上,能够沿立柱上下移动;检测机构能够对承载机构上的晶圆表面进行放大成像检测,并回传检测图像;控制模块,所述控制模块连接承载机构,用于控制承载机构沿X轴移动和带动晶圆水平转动,从而使得检测机构能够对晶圆表面各处部位都能成像检测;计算机系统,用于对检测机构回传的检测图像进行处理,识别图像中晶圆表面缺陷。本实用新型适用于大口径晶圆的表面检测,检测速度快、效率高。 |
申请公布号 |
CN204287067U |
申请公布日期 |
2015.04.22 |
申请号 |
CN201420787316.5 |
申请日期 |
2014.12.12 |
申请人 |
元亮科技有限公司 |
发明人 |
王联;欧阳志刚;裴广庆;刘广月 |
分类号 |
G01N21/95(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/95(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 |
代理人 |
殷红梅 |
主权项 |
一种广视野表面缺陷检测装置,包括一个底座(1)和固定在底座(1)上的立柱(2),其特征在于,还包括:用于承载并夹持晶圆的承载机构(3),该承载机构(3)装配在底座(1)上,能够沿X轴移动,并能够带动晶圆水平转动;检测机构(4),所述检测机构(4)装配在立柱(2)上,能够沿立柱(2)上下移动;检测机构(4)能够对承载机构(3)上的晶圆表面进行放大成像检测,并回传检测图像;控制模块(5),所述控制模块(5)连接承载机构(3),用于控制承载机构(3)沿X轴移动和带动晶圆水平转动,从而使得检测机构(4)能够对晶圆表面各处部位都能成像检测;计算机系统(6),分别与检测机构(4)、控制模块(5)连接,用于对检测机构回传的检测图像进行处理,识别图像中晶圆表面缺陷;并用于输出指令使得控制模块(5)控制承载机构(3)的动作。 |
地址 |
214037 江苏省无锡市北塘区光电新材料科技园金山四支路9号 |