发明名称 一种功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构
摘要 本发明提供了一种功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构,它包括由若干个VDMOS单元一起构成的功率VDMOS器件,和由若干个齐纳二极管单元构成的ESD保护结构;所述ESD保护结构的等效输出端并接在所述功率VDMOS器件的栅极和源极两端;所述齐纳二极管单元的反向击穿电压大于所述一种功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构的最大栅源工作电压,且小于栅氧化层的最小击穿电压。本发明的功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构寄生电容小、防护效果更好、工作更可靠,充当ESD防护的单元设于n-外延上并且与VDMOS单元相隔离,使得制造工艺简单、结构稳定并且与VDMOS器件工艺相兼容。本发明适用于功率VDMOS器件的ESD防护。
申请公布号 CN104538395A 申请公布日期 2015.04.22
申请号 CN201510008374.2 申请日期 2015.01.08
申请人 电子科技大学;四川蓝彩电子科技有限公司;四川绿然电子科技有限公司;上海朕芯微电子科技有限公司 发明人 赵建明;徐开凯;廖智;黄平;赵国;钟思翰;徐彭飞;胡兴微;蒋澎湃;陈勇;夏建新
分类号 H01L27/02(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 石家庄科诚专利事务所 13113 代理人 张红卫
主权项 一种功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构,<b>其特征在于:</b>它包括由若干个VDMOS单元一起构成的功率VDMOS器件,和由若干个齐纳二极管单元构成的ESD保护结构;所述ESD保护结构的等效输出端并接在所述功率VDMOS器件的栅极和源极两端;所述齐纳二极管单元的反向击穿电压大于所述一种功率VDMOS器件二极管并联式ESD防护机构的最大栅源工作电压,且小于栅氧化层的最小击穿电压。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号