厚薄两用镀层厚度测量仪

摘要

本发明涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。厚薄两用镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在设备支架上的光检测装置，光检测装置连接一微型处理器系统，光检测装置设有一光源，光源采用红外激光器；光检测装置设有一光敏元件，光敏元件采用红外光敏二极管；设备支架设有一条状开口，红外激光器与红外光敏二极管分别位于条状开口两侧，呈对射关系；红外激光器通过一功率调整机构连接供电电源，通过功率调整机构调整发光强度。激光具有光照面集中、光强度强，具有穿透较厚的镀层的能力，可以适用于厚镀层。又因为具有亮度可调的特点，在降低亮度后，也可以适用于厚度较薄的镀层。

主权项

厚薄两用镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在所述设备支架上的光检测装置，所述光检测装置连接一微型处理器系统，其特征在于，所述光检测装置设有一光源，所述光源采用红外激光器；所述光检测装置设有一光敏元件，所述光敏元件采用红外光敏二极管；所述设备支架设有一条状开口，所述红外激光器与所述红外光敏二极管分别位于所述条状开口两侧，呈对射关系；所述红外激光器通过一功率调整机构连接供电电源，通过所述功率调整机构调整发光强度；所述光检测装置设有一振荡信号发射模块，所述振荡信号发射模块通过所述功率调整机构连接所述红外激光器，从而使所述红外激光器的点亮与熄灭状态交替，产生闪烁；所述红外光敏二极管连接一AD转换器，通过所述AD转换器连接所述微型处理器系统，所述微型处理器系统记录所述AD转换器传送的数值，受到所述红外激光器闪烁的影像，所述AD转换器会产生交变的数值，所述微型处理器系统对所述AD转换器产生的交变的数值进行求差，用所求得的差值作为反映镀层厚度的数值。