发明名称 加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法
摘要 本发明涉及一种辐照装置照射剂量的控制装置。为解决现有环境样品微粒中铀同位素丰度比的分析方法存在的分析结果准确性不高,分析过程干扰较为严重等问题,本发明提供了一种加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法。该方法包括以下步骤:(一)通过超声振荡使样品微粒脱离载体并转移至石墨片;(二)将样品微粒转入扫描电镜;(三)寻找含铀微粒;(四)溶解含铀微粒;(五)制靶;(六)刻度;(七)确定每种铀同位素所需加速器参数;(八)测量每种铀同位素的计数率;(九)计算铀同位素丰度比。本发明解决了微粒中铀同位素丰度比分析存在的多原子离子干扰问题,使丰度灵敏度得以显著提高,所得分析结果准确,弥补了现有分析方法的不足。
申请公布号 CN104535598A 申请公布日期 2015.04.22
申请号 CN201510002268.3 申请日期 2015.01.04
申请人 中国原子能科学研究院 发明人 王琛;董克君;何明;赵兴红;张燕;赵永刚;李力力;姜山
分类号 G01N23/22(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I 主分类号 G01N23/22(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(一)将载有样品微粒的载体置于乙醇中,通过超声振荡使样品微粒脱离载体;将所得含有样品微粒的乙醇转移至石墨片上,加热蒸干乙醇后得到载有样品微粒的石墨片;(二)将载有样品微粒的石墨片置于扫描电镜的电镜腔内,所述扫描电镜具备微操作和X射线能谱功能;同时,在扫描电镜的电镜腔内还放入硅片;采用扫描电镜在石墨片上寻找单个样品微粒;(三)通过扫描电镜的X射线能谱功能判断找到的单个样品微粒是否为含铀微粒;当找到含铀微粒后,通过扫描电镜的微操作功能将其转移至硅片;(四)将载有含铀微粒的硅片转移至样品瓶中,在样品瓶中加入质量百分比浓度不低于40%的硝酸,然后通过加热使含铀微粒溶解完全;在样品瓶中加入超纯水使硝酸的质量百分比浓度降至8%以下;(五)在样品瓶内加入适量铁粉,然后加热蒸干样品瓶内的溶液;将所得固体物质制成靶件;(六)选采用二氧化铅对加速器离子源磁场值进行刻度,得到二氧化铅的磁场值;然后调节加速器端电压和静电偏转板电压使离子传输效率最高,记录此时的加速器端电压和静电偏转板电压;所采用的加速器具有剥离器,当多原子离子穿过剥离器时可使其瓦解;(七)根据步骤(六)得到的二氧化铅的磁场值和铅的自然丰度确定每种铀同位素对应的加速器离子源磁场值;根据步骤(六)记录的加速器端电压和静电偏转板电压确定每种铀同位素对应的加速器端电压和静电偏转板电压;(八)将步骤(五)制得的靶件放入加速器,依次采用步骤(七)确定的每种铀同位素对应的加速器端电压和静电偏转板电压进行分析,获得每种铀同位素的计数率;(九)根据步骤(八)获得的每种铀同位素的计数率计算得出含铀微粒中的铀同位素丰度比。
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