发明名称 用于加工工艺控制的方法和系统
摘要 本发明名称为用于加工工艺控制的方法和系统,提供控制加工工艺以确保加工表面可靠性的系统。系统包含数据库以及计算机系统,其配置为接收与制造零件工艺和标本测试有关的数据。计算机还配置为识别可影响零件使用寿命的加工工艺与其参数,以确定参数可用范围;评估制造工艺参数有关的调查数据;接收可能受加工工艺影响的制造零件的识别数据;评估与特性标本低循环疲劳(LCF)试验设计有关的数据;确定LCF寿命分布;识别影响LCF性能的工艺参数;确定工艺参数的可允许范围;分析工艺参数和可允许范围;评定每个工艺;确定工艺参数窗口并将其输出。
申请公布号 CN101571717B 申请公布日期 2015.04.22
申请号 CN200910138820.6 申请日期 2009.04.29
申请人 通用电气公司 发明人 J·普菲菲尔;P·A·多马斯;R·G·门奇斯;J·C·库尔萨;J·A·沃拉彻克;W·D·霍沃德
分类号 G05B19/418(2006.01)I 主分类号 G05B19/418(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 汤春龙;李家麟
主权项 一种用于输出工艺窗口的方法,所述工艺窗口限制加工工艺期间使用的工艺参数,所述方法包括以下步骤:接收与制造零件工艺和标本测试有关的数据,识别用于制造所述制造零件的至少一个加工工艺和所述至少一个加工工艺的至少一个参数,以确定参数的可用范围,识别所述至少一个加工工艺是通过使用所述至少一个加工工艺的应用工序中的至少一个进行的;评估与所述至少一个加工工艺期间使用的制造工艺参数有关的调查数据,所述调查数据包括厂商在制造所述零件的整个供应链中使用的制造工艺和制造工艺参数以及工艺期间使用的制造工艺参数的范围;接收受所述至少一个加工工艺影响的制造零件的识别数据;评估与特性标本低循环疲劳(LCF)试验设计DOE有关的数据,其中多个制造工艺和相关工艺参数同时被评估,所述DOE包括标本设计、标本几何形状的寿命校正以及材料谱系的寿命校正中的至少一个;通过在多组工艺参数条件下评估零件和加工工艺中的至少一个确定LCF寿命分布;识别影响LCF性能的工艺参数;确定为了安全工作每个已识别工艺参数的可允许范围,其中安全工作是指其中达到可接受的低循环疲劳结果的所述零件的工作;使用工艺测量统计分析已识别工艺参数和已确定的可允许范围;使用工艺测量统计对每个工艺评定;使用用于确定每组工艺参数的可接受性的工艺能力统计方法根据LCF结果确定零件工艺窗口,所述零件工艺窗口包括加工工艺期间要使用的工艺参数的可允许范围;以及输出规格所确保的工艺窗口以控制用于制造所述制造零件的加工工艺,其中所述规格与零件和工艺中的至少一个相关联,并且所述规格包括明确要求以确保工艺窗口在每个制造来源受到控制,从而确保零件属性与预定的设计属性一致。
地址 美国纽约州