发明名称 |
电子设备多按键输入的老化测试装置和方法 |
摘要 |
本发明提供一种电子设备多按键输入的老化测试装置和方法,用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试,所述老化测试装置包括控制器和至少一个可编程电源,所述可编程电源具有多个电源输出接口,用于分别连接到电子设备的对应于所述多个按键的多个按键接口,所述控制器用于分别控制所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。根据本发明的老化测试装置和方法进行老化测试,可减少人力的投入,并可对电子设备的硬件部分和软件部分同时进行测试。 |
申请公布号 |
CN104535874A |
申请公布日期 |
2015.04.22 |
申请号 |
CN201510023196.0 |
申请日期 |
2015.01.16 |
申请人 |
三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社 |
发明人 |
王莹;詹永明 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
张川绪 |
主权项 |
一种电子设备多按键输入的老化测试装置,用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试,其特征在于,包括控制器和至少一个可编程电源,所述可编程电源具有多个电源输出接口,所述多个电源输出接口分别用于连接到电子设备的对应于所述多个按键的多个按键接口,所述控制器用于分别控制所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。 |
地址 |
215021 江苏省苏州市工业园区国际科技园科技广场7楼 |