发明名称 |
存储设备旋转振动测试系统及方法 |
摘要 |
一种存储设备旋转振动测试系统,所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇,该系统包括:设置模块,用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间;选择模块,用于从待测的存储器中逐一选择存储器;风扇控制模块,用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速,并且控制风扇以该选择的转速运转;负载控制模块,用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载,并且对存储设备产生该选择的工作负载;测试模块,用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能;及存储模块,用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。 |
申请公布号 |
CN102087855B |
申请公布日期 |
2015.04.22 |
申请号 |
CN200910311036.0 |
申请日期 |
2009.12.08 |
申请人 |
淮南东正电子科技有限公司 |
发明人 |
宋艳丽 |
分类号 |
G11B5/455(2006.01)I;G11B20/18(2006.01)I |
主分类号 |
G11B5/455(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种存储设备旋转振动测试系统,运行于主机中,所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇,其特征在于,该系统包括:设置模块,用于设置存储设备的测试参数,所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间;选择模块,用于从待测的存储器中逐一选择存储器;风扇控制模块,用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速,并且控制风扇以该选择的转速运转;负载控制模块,用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载,并且对存储设备产生该选择的工作负载;测试模块,用于根据设置的测试时间,在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能;及存储模块,用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。 |
地址 |
232007 安徽省淮南市田家庵区朝阳街道华声苑社区119号 |