发明名称 电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法
摘要 一种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法及装置,其中装置包括:支架、第一试样平台和第一光功率计,转动平面通过转动轴与支架的Z轴连接,转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的第一镜头和第一孔径光阑,第一孔径光阑紧贴第一光功率计探头,第一孔径光阑中心对准第一光功率计探头中心,支架的一侧设有平行移动装置,第一试样平台设置在所述平行移动装置;第一光功率计与第一光功率计探头电气连接。这种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试装置,操作简单,能精确测量出热危害辐射距离,从而精确得到电玩具中激光器或发光二极管的光辐射。
申请公布号 CN102853993B 申请公布日期 2015.04.22
申请号 CN201210366729.1 申请日期 2012.09.28
申请人 中华人民共和国深圳出入境检验检疫局 发明人 徐晓光;徐勤;张栋;钟勇;尹丽娟;杨丽丹;杨欢
分类号 G01M11/00(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 代理人 胡清方;彭友华
主权项 一种电玩具中激光器或发光二极管辐射测试方法,其特征在于,使用支架和第一试样平台,转动平面通过转动轴与所述支架的Z轴连接,所述转动平面上设有在同一平面内的第一成像装置的镜头和第一光功率计探头,所述第一试样平台通过平行移动装置设在支架一侧,具体测试方法包括 :100.将被测试的电玩具固定在所述第一试样平台上,用光谱仪测出激光器或发光二极管的波长<i>λ</i>,使所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管光轴垂直于所述第一成像装置的镜头;200.沿所述平行移动装置移动所述第一试样平台,使所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管在所述第一成像装置上成像,当所成的像为清晰图像时,停止移动所述第一试样平台;300.根据所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管对应的波长、光谱带宽和所述第一成像装置的放大倍数,查询预先制定的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像物距校准表,得到所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源到所述第一成像装置镜头的物距<i>d</i>;400.通过所述第一成像装置测量出所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源清晰成像时的图像尺寸<i>d<sub>x</sub></i><i><sup>、</sup></i><i>、</i><i>d<sub>y</sub></i><i><sup>、</sup></i>,并根据所述第一成像装置放大倍数<i>M<sub>1</sub></i>,按式<img file="3796dest_path_image001.GIF" wi="33" he="21" />和式<img file="dest_path_image002.GIF" wi="33" he="21" />计算出所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源垂直方向实际尺寸<i>d<sub>x</sub></i>、<i>d<sub>y</sub></i>;式<img file="983253dest_path_image003.GIF" wi="39" he="42" />:<i>d<sub>x</sub></i>= <i>d<sub>x</sub></i><i><sup>、</sup></i>/<i> M<sub>1</sub></i>;式<img file="dest_path_image004.GIF" wi="28" he="21" />:<i>d<sub>y</sub></i> = <i>d<sub>y</sub></i><i><sup>、</sup></i>/<i> M<sub>1</sub></i>;500.依据所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源垂直方向实际尺寸<i>d<sub>x</sub></i>、<i>d<sub>y</sub></i>的值,根据式<img file="825307dest_path_image005.GIF" wi="33" he="21" />计算出所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源对象角<i>α</i>的值;式<img file="282833dest_path_image005.GIF" wi="33" he="21" />:<img file="dest_path_image006.GIF" wi="415" he="60" />;600.依据所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源对象角<i>α</i>的值,根据式<img file="663917dest_path_image007.GIF" wi="33" he="21" />计算出所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源到所述第一成像装置镜头的热危害辐射距离<i>r</i>;式<img file="548696dest_path_image007.GIF" wi="33" he="21" />:<img file="dest_path_image008.GIF" wi="227" he="60" />;700.转动所述转动平面,使所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管光轴垂直于所述第一光功率计探头;此时所述第一试样平台的位置视为第一坐标原点,以所述热危害辐射距离<i>r</i>与所述物距<i>d</i>之间的差值为测试坐标,将所述第一试样平台的位置从所述第一坐标原点移动至所述测试坐标,用第一光功率计测量出所述波长为<i>λ</i>的激光器或发光二极管的表观光源在所述热危害辐射距离<i>r</i>的位置的热辐射值。
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