发明名称 半导体装置
摘要 本发明提供一种藉由提高对准标记之视辨性,而可高精度地进行半导体晶片与安装基板之位置对准的技术。在构成LCD驱动器之半导体晶片中,系于半导体基板1S上之对准标记形成区域中形成标记MK1。该标记MK1系与积体电路形成区域之最上层配线(第3层配线L3)在同层上而形成。且于标记MK1及包围标记MK1之背景区域之下层,形成图案P1a、P1b、P2、P3。此时,图案P1a系与第2层配线L2在同层上而形成,图案P1b系与第1层配线L1在同层上形成。进而,图案P2系与闸电极G在同层上而形成,图案P3系与元件分离区域STI在同层上形成。
申请公布号 TW201515193 申请公布日期 2015.04.16
申请号 TW103145570 申请日期 2008.11.27
申请人 瑞萨电子股份有限公司 RENESAS ELECTRONICS CORPORATION 发明人 纐缬政巳 KOKETSU, MASAMI;泽田敏昭 SAWADA, TOSHIAKI
分类号 H01L27/092(2006.01);G03F9/00(2006.01);H01L21/8238(2006.01);H01L23/544(2006.01) 主分类号 H01L27/092(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP