| 摘要 |
本発明は、可変形状の表面（２）と、処理回路（１２）で収集する第１および第２の測定信号（Ｓ１、Ｓ２）を供給するように設計された第１および第２のセンサ（Ｃ１、Ｃ２）とを備えたシステム（１）であって、上記第１および第２の測定信号（Ｓ１、Ｓ２）を収集する第１および第２の測定経路（Ｖ１、Ｖ２）を備え、前記第１および第２の測定経路（Ｖ１、Ｖ２）に校正信号（ＳＥ）を同時に投入する共通校正部材（２０）を備えており、測定経路（Ｖ１、Ｖ２、Ｖｎ）を介して復元された画像信号（Ｓ’１、Ｓ’２、Ｓ’ｎ）が上記可動性の表面（２）とは独立となるように上記共通校正部材（２０）が設計されたことを特徴とするシステム（１）に関する。可変形状ミラーのような可変形状の可動性表面のシステムである。 |
