发明名称 一半导体器件以及一种改善该半导体器件之击穿电压之方法;A SEMICONDUCTOR DEVICE, AND A METHOD OF IMPROVING BREAKDOWN VOLTAGE OF A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 一种半导体器件,具有与一半导体层毗连之第一层,还包括至少一个场修正结构,该场修正结构定位成使得,在使用时,该场修正结构处之电位使得修正该半导体层与该第一层之间之一介面区域处之一E场向量。
申请公布号 TW201515183 申请公布日期 2015.04.16
申请号 TW103120999 申请日期 2014.06.18
申请人 亚德诺半导体科技公司 ANALOG DEVICES TECHNOLOGY 发明人 科尹 艾德华 约翰 COYNE, EDWARD JOHN;欧 汉娜德 布兰登 普尔 欧格 O HANNAIDH, BREANDAN POL OG;惠斯登 席穆斯P WHISTON, SEAMUS P.;兰恩 威廉 艾伦 LANE, WILLIAM ALLAN;麦克奥利夫 多那尔P MCAULIFFE, DONAL P.
分类号 H01L23/58(2006.01) 主分类号 H01L23/58(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 百慕达 BM