发明名称 用于选择性抛光基材的湿式氧化铈组合物、及其相关方法;WET-PROCESS CERIA COMPOSITIONS FOR SELECTIVELY POLISHING SUBSTRATES, AND METHODS RELATED THERETO
摘要 本发明揭示一种化学机械抛光组合物与一种抛光基材的方法。该抛光组合物包含湿式氧化铈磨料颗粒(例如120奈米或更低);至少一醇胺;至少一界面活性剂,具有至少一亲水性部分与至少一疏水性部分,该界面活性剂具有1,000的分子量;以及水,其中该抛光组合物具有6的pH值。该抛光组合物可用于,例如,抛光例如半导体工业中所用的多晶矽晶圆等任何适宜的基材。
申请公布号 TW201514286 申请公布日期 2015.04.16
申请号 TW103134718 申请日期 2014.10.06
申请人 卡博特微电子公司 CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION 发明人 瑞斯 布莱恩 REISS, BRIAN
分类号 C09K3/14(2006.01);C09G1/02(2006.01);B24B37/00(2012.01);H01L21/304(2006.01) 主分类号 C09K3/14(2006.01)
代理机构 代理人 陈翠华
主权项
地址 美国 US