发明名称 |
用于选择性抛光基材的湿式氧化铈组合物、及其相关方法;WET-PROCESS CERIA COMPOSITIONS FOR SELECTIVELY POLISHING SUBSTRATES, AND METHODS RELATED THERETO |
摘要 |
本发明揭示一种化学机械抛光组合物与一种抛光基材的方法。该抛光组合物包含湿式氧化铈磨料颗粒(例如120奈米或更低);至少一醇胺;至少一界面活性剂,具有至少一亲水性部分与至少一疏水性部分,该界面活性剂具有1,000的分子量;以及水,其中该抛光组合物具有6的pH值。该抛光组合物可用于,例如,抛光例如半导体工业中所用的多晶矽晶圆等任何适宜的基材。 |
申请公布号 |
TW201514286 |
申请公布日期 |
2015.04.16 |
申请号 |
TW103134718 |
申请日期 |
2014.10.06 |
申请人 |
卡博特微电子公司 CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION |
发明人 |
瑞斯 布莱恩 REISS, BRIAN |
分类号 |
C09K3/14(2006.01);C09G1/02(2006.01);B24B37/00(2012.01);H01L21/304(2006.01) |
主分类号 |
C09K3/14(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
陈翠华 |
主权项 |
|
地址 |
美国 US |