测量设备之校正方法

摘要

本发明系一种用于校正具有第一定向耦合器与第二定向耦合器之测量设备之方法，该测量设备系用于测量一双端口待测物件(DUT–Device Under Test)，该待测物件于校正平面内系具有第一埠与第二埠；其中，为了校正测量设备，使用一具有第一测量埠至第六测量埠之向量网路分析仪(VNA)，并与校正平面内之第一埠与第二埠连接，使得第一测量埠与校正平面内之第一埠连接，第二测量埠与校正平面内之第二埠连接，第三测量埠与第四测量埠与第一定向耦合器连接，且第五测量埠与第六埠测量埠与第二定向耦合器分别经由一传波线路连接，以传输电磁波。针对不同的校正标准，会对每个预设之频率点测定其散射参数，由该参数分别可算得描写经过定向耦合器之传输行为之散射矩阵，针对不同的校正标准可将散射矩阵转换为修正后散射矩阵；利用修正后散射矩阵之散射参数，可藉由预设之校正演算法，算出用于描述测量埠与埠之间传输行为之误差矩阵内之各项。