发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
摘要 提供了半导体装置及其制造方法。该半导体装置包括:井区域;设置在井区域中的汲极区域和源极区域;设置在井区域上方的闸极电极;设置在闸极电极下面的薄闸极绝缘层和厚闸极绝缘层,厚闸极绝缘层被设置成比薄闸极绝缘层更靠近汲极区域;以及设置在闸极电极下方的延伸汲极接面区域。
申请公布号 TW201515231 申请公布日期 2015.04.16
申请号 TW103135178 申请日期 2014.10.09
申请人 美格纳半导体有限公司 MAGNACHIP SEMICONDUCTOR, LTD. 发明人 柳惟信 RYU, YU SHIN;吴宝石 OH, BO SEOK
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 南韩 KR