发明名称 |
沟槽式场效应管及其制备方法 |
摘要 |
沟槽式场效应管及其制备方法,属于半导体器件领域,包括:半导体衬底,覆盖半导体衬底表面的外延层,位于外延层内的源掺杂区,位于外延层内且在源掺杂区下方的沟道区,位于外延层内且与源掺杂区和沟道区均相邻接触的沟槽,用于连接外电极的源/漏/栅电极,以及位于沟道区下方且与沟道区相邻接处的第一掺杂区。通过所述第一掺杂区的引入,减小寄生三极管中基区电压降,抑制寄生三极管导通,从而降低三极管的基极电流,有效减小寄生三极管效应,改善沟槽式场效应管的性能。 |
申请公布号 |
CN102637737B |
申请公布日期 |
2015.04.15 |
申请号 |
CN201110035876.6 |
申请日期 |
2011.02.10 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
王颢 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种沟槽式场效应管,包括:具有第一导电类型的半导体衬底;具有第一导电类型的外延层,覆盖所述半导体衬底表面;具有第一导电类型的源掺杂区,位于所述外延层内;具有第二导电类型的沟道区,位于所述外延层内,且位于所述源掺杂区下方;沟槽,位于所述外延层内,且与所述源掺杂区和沟道区均相邻接触,所述沟槽深度小于所述外延层厚度,大于所述沟道区注入深度,所述沟槽侧壁与底部均覆有栅氧化层,沟槽内填充多晶硅,形成多晶硅栅;源/漏/栅电极,用于连接外电极;其特征在于,所述沟槽式场效应管还包括:具有第一导电类型的第一掺杂区,位于所述沟道区下方,且与所述沟道区相邻接触;所述半导体衬底的掺杂浓度大于所述外延层的掺杂浓度,所述源掺杂区的掺杂浓度大于所述半导体衬底的掺杂浓度,所述第一掺杂区的掺杂浓度小于所述沟道区的掺杂浓度。 |
地址 |
201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号 |