发明名称 栅氧生长方法
摘要 本发明公开了一种栅氧生长方法,包括如下步骤:将需要进行栅氧生长的圆片放入反应室内,通入氧气使得所述圆片置于氧气氛围下,接着对所述圆片进行升温直至温度升高至工艺温度;保持温度为工艺温度并维持氧气的通入,开始通入DCE使得所述圆片置于氧气和DCE的混合氛围下;保持温度为工艺温度并维持氧气和DCE的通入,开始通入氢气直至栅氧生长完成;关闭DCE、氢气和氧气的通入,开始通入氮气直至圆片降温至非工艺温度。这种栅氧生长方法通过添加含有Cl的气体DCE,在栅氧生长的步骤中,DCE由于热氧化而生成的Cl起了O与Si反应的催化剂的作用,从而大大提高了氧化速率。这种栅氧生长方法,相对于传统的干法氧化法,生产效率较高。
申请公布号 CN104517825A 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201310450743.4 申请日期 2013.09.27
申请人 无锡华润上华半导体有限公司 发明人 白晓娜;王根毅
分类号 H01L21/285(2006.01)I 主分类号 H01L21/285(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 邓云鹏
主权项 一种栅氧生长方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、将需要进行栅氧生长的圆片放入反应室内,通入氧气使得所述圆片置于氧气氛围下,接着对所述圆片进行升温直至温度升高至工艺温度;步骤二、保持温度为工艺温度并维持氧气的通入,开始通入DCE使得所述圆片置于氧气和DCE的混合氛围下;步骤三、保持温度为工艺温度并维持氧气和DCE的通入,开始通入氢气直至栅氧生长完成;步骤四、关闭DCE、氢气和氧气的通入,并开始通入氮气直至所述圆片降温至非工艺温度。
地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号