发明名称 一种位移测量系统和装置
摘要 本发明涉及一种位移测量系统和装置,包括激励线圈,采集线圈;还包括电源电路,包括第一芯片与第一稳压二极管,用于为电路供电;激励信号产生电路,包括第二芯片与第三芯片,用于产生激励信号,所述激励信号加载在所述激励线圈的两端;运放电路,包括第一运算放大器与第二运算放大器,用于放大采集线圈;CPU电路,所述CPU电路包括第四芯片,用于处理信号;输出电路,包括第五芯片,用于TTL信号的输出。本发明提供的位移测量系统和装置,可以令位移测量更精准,不受外部环境影响。
申请公布号 CN104515464A 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201310477356.X 申请日期 2013.10.03
申请人 上海球栅测量系统有限公司 发明人 张伟
分类号 G01B7/02(2006.01)I 主分类号 G01B7/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种位移测量系统,其特征在于:包括感应单元与读数头单元,所述读数头单元包括线圈,所述线圈包括激励线圈,采集线圈;其中采集线圈包括第一采集线圈和第二采集线圈;所述读数头单元还包括:电源单元,包括第一芯片与第一稳压二极管,用于为电路供电;激励信号单元,包括第二芯片与第三芯片,用于产生激励信号,所述激励信号加载在所述激励线圈的两端;运放电路单元,包括第一运算放大器与第二运算放大器,用于放大采集线圈;微处理器单元,所述微处理器单元包括第四芯片,用于处理信号;输出单元,包括第五芯片,用于TTL信号的输出。
地址 201700 上海市青浦区公园东路1155号科技创业中心5016-60室