发明名称 在预定空间中检测金属物件的系统、方法和设备
摘要 本发明提供用于检测外来物件的系统、方法和设备。在一方面中,提供一种用于检测物件的存在的设备。所述设备包括谐振电路,所述谐振电路具有谐振频率。所述谐振电路包括感测电路,所述感测电路包括导电结构。所述设备进一步包括耦合电路,所述耦合电路耦合到所述感测电路。所述设备进一步包括检测电路,所述检测电路经由所述耦合电路而耦合到所述感测电路。所述检测电路经配置以响应于检测取决于所述谐振电路正在谐振的频率的测定特性与取决于所述谐振电路的所述谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在。所述耦合电路经配置以缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路进行的所述谐振频率的变化。
申请公布号 CN104521151A 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201380036625.7 申请日期 2013.07.10
申请人 高通股份有限公司 发明人 汉斯彼得·威德默;马库斯·比特纳;卢卡斯·西贝尔;马塞尔·菲舍尔
分类号 H04B5/00(2006.01)I 主分类号 H04B5/00(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 宋献涛
主权项 一种用于检测物件的存在的设备,所述设备包含:谐振电路,其具有谐振频率,所述谐振电路包含感测电路,所述感测电路包含导电结构;耦合电路,其耦合到所述感测电路;以及检测电路,其经由所述耦合电路而耦合到所述感测电路,所述检测电路经配置以响应于检测取决于所述谐振电路正在谐振的频率的测定特性与取决于所述谐振电路的所述谐振频率的对应特性之间的差而检测所述物件的所述存在,且所述耦合电路经配置以缩减在不存在所述物件的情况下由所述检测电路进行的所述谐振频率的变化。
地址 美国加利福尼亚州