发明名称 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法
摘要 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,涉及光学测量方法技术领域,解决现有测量长焦距相机焦距时测量精度低、配套设备需求经费高等问题,本发明采用球径仪测量干涉仪球面标准镜的曲率半径,采用镜面定位仪测量标准镜的透镜厚度,并根据获得的曲率半径及透镜厚度计算干涉仪球面标准镜的焦距;采用镜面定位仪测量基准尺的长度,并将测量长度后基准尺放置在二维调整台上;将被测相机、平面镜及基准尺放置在干涉仪的前方并进行粗调整及平面镜精细调整;使被测相机的干涉图在干涉仪的探测器上成像;采用四象限分析法计算探测器上的成像,获得基准尺的像的长度;根据干标准镜的焦距,基准尺长度以及基准尺像的长度,获得被测相机的焦距。
申请公布号 CN104515671A 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201410788325.0 申请日期 2014.12.17
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 马洪涛;金辉;韩冰;李旭;周兴义
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 陶尊新
主权项 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,该方法由以下步骤实现:步骤一、采用球径仪测量4D干涉仪球面标准镜的曲率半径,采用镜面定位仪测量所述4D干涉仪球面标准镜的透镜厚度,并根据获得的曲率半径及透镜厚度计算4D干涉仪球面标准镜的焦距;步骤二、将所述4D干涉仪球面标准镜安装到4D干涉仪上,并将4D干涉仪放置五维调整台上;步骤三、采用镜面定位仪测量基准尺的长度,并将测量长度后基准尺放置在二维调整台上;步骤四、将被测相机、平面镜及基准尺放置在所述4D干涉仪的前方并进行粗调整,并通过步骤二中所述的4D干涉仪的五维调整台以及平面镜的调整机构对4D干涉仪及平面镜精细调整;使被测相机及基准尺的干涉图在4D干涉仪的探测器上成像;步骤五、采用四象限分析法计算探测器上的成像,获得基准尺的像的长度;步骤六、根据步骤一获得的4D干涉仪球面标准镜的焦距,步骤三获得的基准尺长度以及步骤五获得的基准尺的像的长度,获得被测相机的焦距。
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