| 发明名称 | 多模相移干涉器件 | ||
| 摘要 | 一种多模干涉(MMI)器件，包括：基底层；沉积在所述基底层上用以传播光学信号的芯层；以及沉积在所述芯层上用于引导所述光学信号的覆层。所述芯层包括适于传播具有不同波长的多个光学信号的芯分区。所述芯分区包括用于均匀相移所述多个光学信号的偏移段。所述偏移段包括具有不同有效折射率的分区、倾斜的分区、弯曲分区和具有宽度、厚度或有效折射率变化的波导中的至少一种或其组合。 | ||
| 申请公布号 | CN104516051A | 申请公布日期 | 2015.04.15 |
| 申请号 | CN201410499703.3 | 申请日期 | 2014.09.26 |
| 申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 小岛启介;T·S·辛;秋浓俊昭;西川智志;王炳南;柳生荣治 |
| 分类号 | G02B6/12(2006.01)I | 主分类号 | G02B6/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 肖靖 |
| 主权项 | 一种多模干涉(MMI)器件，包括：基底层；沉积在所述基底层上用以传播光学信号的芯层；以及沉积在所述芯层上用于引导所述光学信号的覆层，其中所述芯层包括适于传播具有不同波长的多个光学信号的芯分区，其中所述芯分区包括用于唯一地使所述多个光学信号的相位偏移的偏移段，其中所述偏移段包括具有不同的有效折射率的分区、倾斜的分区、弯曲分区和在宽度、厚度或有效折射率上具有变化的波导中的至少一种或组合。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||