发明名称 |
具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片及其制成方法 |
摘要 |
本发明提出一种具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片,用于在绝缘体上硅衬底上制作器件,绝缘体上硅衬底依次包括衬底层、氧化掩埋层、单晶硅顶层和层间介质层,具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片包括金属接触孔,金属接触孔贯穿层间介质层、单晶硅顶层和氧化掩埋层,与衬底层接触。这种绝缘体上硅衬底硅片的制作方法也一并提出。本发明所揭露的绝缘体上硅衬底硅片,在SOI衬底中形成金属接触孔,消除了氧化掩埋层对于热量的阻挡,增大SOI衬底的导热能力。 |
申请公布号 |
CN101976660B |
申请公布日期 |
2015.04.15 |
申请号 |
CN201010278735.2 |
申请日期 |
2010.09.10 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
李乐 |
分类号 |
H01L23/36(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/36(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片,用于在绝缘体上硅衬底上制作器件,所述绝缘体上硅衬底依次包括衬底层、氧化掩埋层、单晶硅顶层和层间介质层,其特征是,所述具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片包括金属接触孔,所述金属接触孔贯穿所述层间介质层、单晶硅顶层和氧化掩埋层,与所述衬底层接触,其中,所述单晶硅顶层中包括浅沟槽隔离,部分所述金属接触孔贯穿所述单晶硅顶层中的所述浅沟槽隔离。 |
地址 |
201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号 |