发明名称 具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片及其制成方法
摘要 本发明提出一种具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片,用于在绝缘体上硅衬底上制作器件,绝缘体上硅衬底依次包括衬底层、氧化掩埋层、单晶硅顶层和层间介质层,具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片包括金属接触孔,金属接触孔贯穿层间介质层、单晶硅顶层和氧化掩埋层,与衬底层接触。这种绝缘体上硅衬底硅片的制作方法也一并提出。本发明所揭露的绝缘体上硅衬底硅片,在SOI衬底中形成金属接触孔,消除了氧化掩埋层对于热量的阻挡,增大SOI衬底的导热能力。
申请公布号 CN101976660B 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201010278735.2 申请日期 2010.09.10
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 李乐
分类号 H01L23/36(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L23/36(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片,用于在绝缘体上硅衬底上制作器件,所述绝缘体上硅衬底依次包括衬底层、氧化掩埋层、单晶硅顶层和层间介质层,其特征是,所述具有散热结构的绝缘体上硅衬底硅片包括金属接触孔,所述金属接触孔贯穿所述层间介质层、单晶硅顶层和氧化掩埋层,与所述衬底层接触,其中,所述单晶硅顶层中包括浅沟槽隔离,部分所述金属接触孔贯穿所述单晶硅顶层中的所述浅沟槽隔离。
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