用于半导体光源的远场强度测试装置

摘要

本发明提供一种用于半导体光源的远场强度的测试装置，结构精巧，且能够避免双臂机械上干涉而导致的系统可靠性低的问题。该装置主要包括相对固定的第一旋转轴和载台、相对固定的第二旋转轴和转折臂；待测半导体光源固定于载台上，待测半导体光源的出光光轴与第一旋转轴的轴心线垂直，驱动第一旋转轴能够带动载台使待测半导体光源在竖直平面内摆动180度范围；光探头固定于转折臂上，安装高度与待测半导体光源水平状态时的光路位置相当；第二旋转轴的轴心线位于待测半导体光源出光的摆动平面内；驱动第二旋转轴能够带动转折臂使光探头以第二旋转轴为轴心水平旋转180度范围。

主权项

用于半导体光源的远场强度测试装置，其特征在于：包括底座、待测半导体光源、光探头、摆动组件和旋转组件以及相应的驱动电机，其中摆动组件和旋转组件均固定安装于所述底座上；所述摆动组件包括相对固定的第一旋转轴和载台，待测半导体光源固定于载台上，待测半导体光源的出光光轴与第一旋转轴的轴心线垂直，驱动第一旋转轴能够带动载台使待测半导体光源在竖直平面内摆动180度范围；所述旋转组件包括相对固定的第二旋转轴和转折臂，第二旋转轴位于待测半导体光源的近端，光探头固定于转折臂上并位于待测半导体光源的远端，光探头的安装高度与待测半导体光源水平状态时的光路位置相当；第二旋转轴的轴心线位于待测半导体光源出光的摆动平面内；驱动第二旋转轴能够带动转折臂使光探头以第二旋转轴为轴心水平旋转180度范围。