一种集成电路的内建自测试方法及应用

摘要

本发明公开了一种集成电路的内建自测试方法及应用。本发明通过使用二元判定图来生成电路中每一个故障的所有测试矢量，并通过对测试矢量的选取，来获得具有极小规模的电路测试集；在被测电路的内建自测试中直接使用这种极小规模的电路测试集来对电路进行测试。本发明可以使内建自测试达到100％的故障覆盖率，同时在测试时间方面由于是使用了极小规模测试集，因此使测试时间有了很大地降低，可以使测试时间达到较小。因此，本发明提供的内建自测试方法能有效地检测集成电路中是否存在故障。

主权项

一种集成电路的内建自测试方法，其特征在于包括如下步骤：使用二元判定图来生成电路中每一个故障的所有测试矢量，并通过对测试矢量的选取，来获得具有极小规模的电路测试集；在被测电路的内建自测试中直接使用这种极小规模的电路测试集来对电路进行测试。