发明名称 |
内嵌式触摸面板的检测方法及制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种内嵌式触摸面板的检测方法及制造方法,所述检测方法包括通过对应的触控导线分别对至少在所述第一方向上交替排列的第一触控电极和第二触控电极提供不同的电压,以使所述第一触控电极所在的显示区域和所述第二触控电极所在的显示区域具有不同亮度,进而根据所述第一触控电极所在的显示区域或所述第二触控电极所在的显示区域的亮度情况至少判断在所述第一方向上相邻的第一触控电极和第二触控电极是否发生短路。通过上述方式,本发明能够简单有效地实现对触摸面板的检测。 |
申请公布号 |
CN104516609A |
申请公布日期 |
2015.04.15 |
申请号 |
CN201410805605.8 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
黄俊宏;谭小平;白宇杰 |
分类号 |
G06F3/044(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/044(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种内嵌式触摸面板的检测方法,其特征在于,所述内嵌式触摸面板包括多个呈矩阵排列且相互绝缘的触控电极,每个所述触控电极与一条触控导线一一对应连接,所述触控导线沿第一方向延伸,所述检测方法包括:通过对应的触控导线分别对至少在所述第一方向上交替排列的第一触控电极和第二触控电极提供不同的电压,以使所述第一触控电极所在的显示区域和所述第二触控电极所在的显示区域具有不同亮度,进而根据所述第一触控电极所在的显示区域或所述第二触控电极所在的显示区域的亮度情况至少判断在所述第一方向上相邻的第一触控电极和第二触控电极是否发生短路。 |
地址 |
518000 广东省深圳市光明新区公明办事处塘家社区观光路汇业科技园综合楼1第一层B区 |