发明名称 |
航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法 |
摘要 |
本发明涉及热真空环境适应性的评价技术领域,公开了一种航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法,包括以下步骤:S1、对航天器用元器件热真空环境进行应力分析,确定热真空环境地面试验的真空应力、热应力和电应力;S2、确定热真空地面试验的循环次数;S3、根据步骤S1和S2确定的试验条件对航天器用元器件进行热真空地面试验,以判定航天器用元器件样品是否合格;S4、若不合格样品数小于等于抽样方案规定的合格判定数,则评价所试验的该批元器件的热真空环境适应性满足任务要求;否则评价为不满足任务要求。本发明能够快速、准确的评价航天器用元器件在热真空环境下的性能,为合理选择航天器用元器件产品提供了依据。 |
申请公布号 |
CN102981081B |
申请公布日期 |
2015.04.15 |
申请号 |
CN201210511213.1 |
申请日期 |
2012.12.03 |
申请人 |
北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
发明人 |
王群勇;冯颖;阳辉;白桦 |
分类号 |
G01M3/00(2006.01)I;G01M99/00(2011.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M3/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
王莹 |
主权项 |
一种航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法,该方法包括:S1、对航天器用元器件热真空环境进行应力分析,确定热真空环境地面试验的真空应力、热应力和电应力;S2、确定热真空地面试验的循环次数;S3、根据步骤S1和S2确定的试验条件对航天器用元器件进行热真空地面试验,以判定航天器用元器件样品是否合格,所述试验条件包括所述真空应力、热应力、电应力和循环次数;S4、若不合格样品数小于等于抽样方案规定的合格判定数,则评价所试验的该批元器件的热真空环境适应性满足任务要求;否则评价为不满足任务要求;其特征在于,所述步骤S2具体包括:S21:确定航天器舱内最劣情况下的温度范围ΔT<sub>2</sub>;S22:根据所述热应力和所述温度范围ΔT<sub>2</sub>计算热真空环境试验的加速因子AF;S23:根据航天器运行周期和任务执行时间,以及所述加速因子AF确定热真空地面试验的循环次数N;<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>AF</mi><mo>=</mo><msup><mfrac><msub><mi>ΔT</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>ΔT</mi><mn>2</mn></msub></mfrac><mi>q</mi></msup></mrow>]]></math><img file="FDA0000626044620000011.GIF" wi="293" he="160" /></maths>其中,ΔT<sub>1</sub>为元器件试验的极限温差,根据所述热应力得到,q表示与元器件材料工艺相关的常数;N=(y/x)/AF其中,x表示航天器运行周期,y表示航天器任务执行时间。 |
地址 |
100089 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器708室 |