| 发明名称 | 一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括：电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器，所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻，所述雪崩二极管与所述配阻连接。本发明的基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器，通过在差分探测器中设置雪崩二极管和配阻，并将所述雪崩二极管与所述配阻连接，大大提升太赫兹信号的信噪比和动态范围。 | ||
| 申请公布号 | CN104515602A | 申请公布日期 | 2015.04.15 |
| 申请号 | CN201410758974.6 | 申请日期 | 2014.12.10 |
| 申请人 | 北京环境特性研究所 | 发明人 | 张少华;蔡禾;孙金海 |
| 分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人 | 黄启行;张璐 |
| 主权项 | 一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括：电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器，其特征在于，所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻，所述雪崩二极管与所述配阻连接。 | ||
| 地址 | 100854 北京市海淀区永定路50号 | ||