| 发明名称 | 一种用于全极化雷达散射截面测量的低散射校准支架 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架，包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；所述安装平台上设有安装座，所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行。采用上述结构后降低了支架对二面角散射场测量的影响，提高了雷达散射截面测量系统校准的准确度。 | ||
| 申请公布号 | CN204269819U | 申请公布日期 | 2015.04.15 |
| 申请号 | CN201420827863.1 | 申请日期 | 2014.12.23 |
| 申请人 | 北京无线电计量测试研究所 | 发明人 | 李贵兰;马蔚宇;马永光;黄建领 |
| 分类号 | G01S7/40(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人 | 张文祎 |
| 主权项 | 一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架，其特征在于：包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；所述安装平台上设有安装座，所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行。 | ||
| 地址 | 100854 北京市海淀区142信箱408分箱 | ||