发明名称 | 一种金属薄膜厚度测试装置 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种金属薄膜厚度测试装置,包括紧压在待测的薄膜样品(11)上的电解池(9),与电解池(9)连接的储液罐(6),内部储存测试用的电解液(7),储液罐(6)与电解池(9)的连接处设有节流阀(4),电解池(9)内设有阴极电极(8),侧部设置导电铜柱(2),该导电铜柱(2)上套设有与电解池(9)接触连接的阳极导线接头(3)。与现有技术相比,本实用新型具有测试效率及精度较高、方便使用等优点,另外还节约了测试成本。 | ||
申请公布号 | CN204269065U | 申请公布日期 | 2015.04.15 |
申请号 | CN201420744609.5 | 申请日期 | 2014.12.01 |
申请人 | 同济大学 | 发明人 | 姚曼文;陈建文;邹培;肖瑞华;彭勇;姚熹 |
分类号 | G01B7/06(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/06(2006.01)I |
代理机构 | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人 | 林君如 |
主权项 | 一种金属薄膜厚度测试装置,其特征在于,该测试装置包括紧压在待测的薄膜样品(11)上的电解池(9),与电解池(9)连接的储液罐(6),内部储存测试用的电解液(7),所述的储液罐(6)与电解池(9)的连接处设有节流阀(4),所述的电解池(9)内设有阴极电极(8),侧部设置导电铜柱(2),该导电铜柱(2)上套设有与电解池(9)接触连接的阳极导线接头(3)。 | ||
地址 | 200092 上海市杨浦区四平路1239号 |