WAFER DICING USING FEMTOSECOND-BASED LASER AND PLASMA ETCH

摘要

복수의 집적 회로들을 각각 갖는 반도체 웨이퍼들을 다이싱(dicing)하는 방법들이 설명된다. 방법은 반도체 웨이퍼 위에 마스크를 형성하는 단계를 포함한다. 마스크는 집적 회로들을 피복 및 보호하는 층으로 구성된다. 마스크는 갭(gap)들을 갖는 패터닝된 마스크를 제공하기 위하여 펨토초-기반의 레이저 스크라이빙 프로세스(femtosecond-based laser scribing process)로 패터닝된다. 패터닝은 집적 회로들 사이의 반도체 웨이퍼의 영역들을 노출한다. 다음으로, 집적 회로들을 싱귤레이팅하기 위하여, 반도체 웨이퍼는 패터닝된 마스크 내의 갭(gap)들을 통해 식각된다.