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经营范围
发明名称
半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要
申请公布号
TWI481036
申请公布日期
2015.04.11
申请号
TW098130364
申请日期
2009.09.09
申请人
半导体能源研究所股份有限公司
发明人
山崎舜平;秋元健吾;小森茂树;鱼地秀贵
分类号
H01L29/786;H01L21/336;H01L21/363
主分类号
H01L29/786
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
一种包括薄膜电晶体的半导体装置,该薄膜电晶体包括:闸极电极层;该闸极电极层上的闸极绝缘层;该闸极绝缘层上的源极电极层及汲极电极层;该源极电极层上的源区;该汲极电极层上的汲区;以及该闸极绝缘层、该源极电极层、该汲极电极层、该源区及该汲区上的氧化物半导体层,其中,该氧化物半导体层与该闸极绝缘层、该源区的侧部分以及该汲区的侧部分接触,并且其中,该氧化物半导体层隔着该闸极绝缘层与该闸极电极层重叠,并具有比该源区及该汲区高的氧浓度。
地址
日本
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