发明名称 半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要
申请公布号 TWI481036 申请公布日期 2015.04.11
申请号 TW098130364 申请日期 2009.09.09
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 山崎舜平;秋元健吾;小森茂树;鱼地秀贵
分类号 H01L29/786;H01L21/336;H01L21/363 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种包括薄膜电晶体的半导体装置,该薄膜电晶体包括:闸极电极层;该闸极电极层上的闸极绝缘层;该闸极绝缘层上的源极电极层及汲极电极层;该源极电极层上的源区;该汲极电极层上的汲区;以及该闸极绝缘层、该源极电极层、该汲极电极层、该源区及该汲区上的氧化物半导体层,其中,该氧化物半导体层与该闸极绝缘层、该源区的侧部分以及该汲区的侧部分接触,并且其中,该氧化物半导体层隔着该闸极绝缘层与该闸极电极层重叠,并具有比该源区及该汲区高的氧浓度。
地址 日本