发明名称 用于测试电子元件的分选系统及方法
摘要
申请公布号 TWI480560 申请公布日期 2015.04.11
申请号 TW102103848 申请日期 2013.02.01
申请人 先进科技新加坡有限公司 发明人 郑志华;谢泓龙;张智杰;张祖轁
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 邱昱宇 台北市大安区信义路3段202号7楼之4
主权项 一种用于测试电子元件的分选系统,该分选系统包含有:旋转转盘;拾取头,其被装配在该旋转转盘上,每个拾取头被配置来夹持由供应源所提供的各个电子元件;载体系统,其相邻于旋转转盘定位,该载体系统被配置来运载多个电子元件;以及测试平台,其被配置来接收载体系统,该测试平台被操作来同时测试已经设置在载体系统上的多个电子元件;其中,该拾取头被操作来在测试平台测试电子元件以前传送电子元件至该载体系统上,以及在测试平台测试电子元件之后从载体系统处移除电子元件,该载体系统包含有第一缓冲器载体和第二缓冲器载体,在通过拾取头将电子元件传送至相邻于旋转转盘的一个缓冲器载体的同时,将设置在另一个缓冲器载体上的电子元件进行测试。
地址 新加坡