发明名称 Frequency measuring circuit and semiconductor device comprising the same
摘要 <p>본 발명은 주파수 측정 회로 및 이를 구비하는 반도체 장치를 공개한다. 이 회로는 외부로부터 입력되는 클럭 신호를 인가받아 분주하여 분주 클럭 신호를 출력하고, 상기 분주 클럭 신호를 상기 클럭 신호의 주기에 비례하는 시간만큼 지연시켜 쉬프트 클럭 신호를 출력하는 분주 및 쉬프트 클럭 신호 발생부, 상기 분주 클럭 신호를 인가받아 서로 다른 고정된 소정 시간 지연시킨 복수개의 지연 클럭 신호들을 출력하는 지연 클럭 신호 발생부, 및 상기 복수개의 지연 클럭 신호들 및 상기 쉬프트 클럭 신호를 입력하고, 상기 복수개의 지연 클럭 신호들 각각과 상기 쉬프트 클럭 신호의 위상차를 검출하여 상기 클럭 신호의 주파수에 대한 정보를 나타내는 복수개의 위상 검출 신호를 출력하는 위상 검출부를 구비하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101510777(B1) 申请公布日期 2015.04.10
申请号 KR20090024020 申请日期 2009.03.20
申请人 发明人
分类号 G01R23/12 主分类号 G01R23/12
代理机构 代理人
主权项
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