SYSTEM UND VERFAHREN ZUM MESSEN VON MIT HALBLEITERSCHALTVORICHTUNGEN ASSOZIIERTEM SCHALTVERLUST

摘要

Ein Verfahren gemäß einem beispielhaften Aspekt der vorliegenden Offenbarung umfasst u. a. ein Steuern eines Fahrzeugs unter Verwendung von Schaltverlustinformationen einer Halbleiter-Schaltvorrichtung, wobei die Schaltverlustinformationen von einem Leitungsverlust und einem kombinierten Leitungs- und Schaltverlust abgeleitet werden.