发明名称 X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置
摘要 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置,所述方法包括:步骤1:对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正;步骤2:对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波;步骤3:对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化,获得二值化图像;步骤4:对所述二值化图像进行细化,以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线;步骤5:根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化,避免的仪器使用者的主观因素导致的误差,并且仪器调节速度大大提高,精确度也得到了很好的保证。
申请公布号 CN104504710A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201410840694.X 申请日期 2014.12.30
申请人 中国科学技术大学 发明人 吴自玉;韩华杰;王圣浩;张灿;杨萌;王志立;高昆
分类号 G06T7/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法,其包括:步骤1:对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正;步骤2:对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波;步骤3:对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化,获得二值化图像;步骤4:对所述二值化图像进行细化,以提取二值化图像中各摩尔条纹的初始位置信息;步骤5:根据所提取的各摩尔条纹的初始位置信息识别各摩尔条纹的精确位置。
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