发明名称 |
用于细颗粒测量设备的层流监控方法、细颗粒分析方法以及细颗粒测量设备 |
摘要 |
提供了能够自动地确定在流动通道中的层流的液体馈送状态以确保数据可靠性的技术。提供了用于细颗粒测量设备的层流监控方法,该方法包括:照射层流的照射步骤;通过检测器接收S偏振成分并且在检测器中获取S偏振成分的光接收位置信息的位置检测步骤,该S偏振成分从由层流产生的散射光分离并被施加像散;以及基于光接收位置信息确定层流的状态的确定步骤。 |
申请公布号 |
CN104508455A |
申请公布日期 |
2015.04.08 |
申请号 |
CN201380040889.X |
申请日期 |
2013.06.05 |
申请人 |
索尼公司 |
发明人 |
新田尚 |
分类号 |
G01N15/14(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01N21/21(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
一种细颗粒测量设备中的层流监控方法,所述方法包括:将光照射到层流的照射步骤;通过检测器接收S偏振成分并且获取所述检测器中的所述S偏振成分的光接收位置信息的位置检测步骤,所述S偏振成分从由所述层流产生的散射光分离并被赋予像散;以及基于所述光接收位置信息确定所述层流的状态的确定步骤。 |
地址 |
日本东京 |