发明名称 一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽
摘要 本实用新型涉及一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽,属于半导体集成电路工艺技术领域,包括:磁化装置、循环管路以及控制单元,循环管路上设有表面张力计、启闭阀以及液体泵;在清洗过程开始前/过程中,表面张力计检测清洗液的表面张力,并将清洗液的表面张力值反馈至控制单元,控制单元控制磁化装置的开关,并通过磁化装置将清洗液的表面张力值调节至预设范围内。本实用新型利用外加磁场的方式,改变液体的表面张力,利用表面张力计实时监控液体表面张力值,并将监测的信息反馈给磁化装置,以控制磁场强度,使磁场强度值保持在预设数值,最终使水的表面张力值稳定在所需要的数值,符合晶圆生产的工艺需求。
申请公布号 CN204257600U 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201420716656.9 申请日期 2014.11.25
申请人 上海集成电路研发中心有限公司 发明人 厉心宇
分类号 H01L21/67(2006.01)I;B08B3/10(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;林彦之
主权项 一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽,包括清洗槽本体,所述清洗槽本体内设有晶圆以及晶圆承载座,其特征在于,所述清洗槽还包括:磁化装置,安装在所述清洗槽本体的四周;循环管路,与所述清洗槽本体的外侧壁连通,所述循环管路上设有表面张力计、启闭阀以及液体泵;所述表面张力计用于检测清洗液表面张力值,所述启闭阀用于控制所述循环管路内清洗液的流通,所述液体泵为所述循环管路内清洗液的流通提供动力;控制单元,所述控制单元同时与所述磁化装置以及表面张力计连接;其中,在清洗过程开始前/过程中,所述表面张力计检测清洗液的表面张力,并将清洗液的表面张力值反馈至所述控制单元,所述控制单元控制所述磁化装置的开关,并通过所述磁化装置将清洗液的表面张力值调节至预设范围内。
地址 201210 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号
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