发明名称 |
一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽 |
摘要 |
本实用新型涉及一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽,属于半导体集成电路工艺技术领域,包括:磁化装置、循环管路以及控制单元,循环管路上设有表面张力计、启闭阀以及液体泵;在清洗过程开始前/过程中,表面张力计检测清洗液的表面张力,并将清洗液的表面张力值反馈至控制单元,控制单元控制磁化装置的开关,并通过磁化装置将清洗液的表面张力值调节至预设范围内。本实用新型利用外加磁场的方式,改变液体的表面张力,利用表面张力计实时监控液体表面张力值,并将监测的信息反馈给磁化装置,以控制磁场强度,使磁场强度值保持在预设数值,最终使水的表面张力值稳定在所需要的数值,符合晶圆生产的工艺需求。 |
申请公布号 |
CN204257600U |
申请公布日期 |
2015.04.08 |
申请号 |
CN201420716656.9 |
申请日期 |
2014.11.25 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
厉心宇 |
分类号 |
H01L21/67(2006.01)I;B08B3/10(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/67(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;林彦之 |
主权项 |
一种用于清洗半导体晶圆的清洗槽,包括清洗槽本体,所述清洗槽本体内设有晶圆以及晶圆承载座,其特征在于,所述清洗槽还包括:磁化装置,安装在所述清洗槽本体的四周;循环管路,与所述清洗槽本体的外侧壁连通,所述循环管路上设有表面张力计、启闭阀以及液体泵;所述表面张力计用于检测清洗液表面张力值,所述启闭阀用于控制所述循环管路内清洗液的流通,所述液体泵为所述循环管路内清洗液的流通提供动力;控制单元,所述控制单元同时与所述磁化装置以及表面张力计连接;其中,在清洗过程开始前/过程中,所述表面张力计检测清洗液的表面张力,并将清洗液的表面张力值反馈至所述控制单元,所述控制单元控制所述磁化装置的开关,并通过所述磁化装置将清洗液的表面张力值调节至预设范围内。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号 |