发明名称 |
一种触发器单元单粒子翻转效应实验验证电路 |
摘要 |
本发明一种触发器单元单粒子翻转效应实验验证电路,包括输入端接入时钟信号的高/低电平产生电路,移位寄存器级联级数相等的移位寄存器链A和移位寄存器链B,以及依次连接的比较电路和高电平检测电路;高/低电平产生电路用于根据时钟信号产生同时输入到移位寄存器链A和B的具有周期性的高低电平信号;移位寄存器链A和B中各寄存器的时钟输入端分别连接时钟信号;移位寄存器链A的数据输出端和移位寄存器链B的数据输出端分别连接到比较电路的两个输入端;当同一时刻输入到比较电路的两个输入端数据状态一致,则比较电路输出端输出低电平,状态不一致则输出高电平;高电平检测电路用于识别比较电路的输出信号,并对高电平进行计数统计。 |
申请公布号 |
CN104502750A |
申请公布日期 |
2015.04.08 |
申请号 |
CN201410749389.X |
申请日期 |
2014.12.05 |
申请人 |
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
发明人 |
李海松;蒋轶虎;杨博;赵德益;王鹏;卢红利;李彤;唐威;吴龙胜 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人 |
徐文权 |
主权项 |
一种触发器单元单粒子翻转效应实验验证电路,其特征在于,包括输入端接入时钟信号(clk)的高/低电平产生电路(811),移位寄存器级联级数相等的移位寄存器链A(812)和移位寄存器链B(814),以及依次连接的比较电路(815)和高电平检测电路(816);所述高/低电平产生电路(811)用于根据时钟信号(clk)产生同时输入到移位寄存器链A(812)和移位寄存器链B(814)的具有周期性的高低电平信号;所述移位寄存器链A(812)和移位寄存器链B(814)中各寄存器的时钟输入端(CK)分别连接时钟信号(clk);移位寄存器链A(812)的数据输出端(Da)和移位寄存器链B(814)的数据输出端(Db)分别连接到比较电路(815)的两个输入端;当同一时刻输入到比较电路(815)的两个输入端数据状态一致,则比较电路(815)输出端输出低电平,状态不一致则输出高电平;所述的高电平检测电路(816)用于识别比较电路(815)的输出信号,并对高电平进行计数统计。 |
地址 |
710000 陕西省西安市太白南路198号 |