发明名称 基于单幅扫描电子显微镜图像的样品表面三维重建方法
摘要 本发明提供了一种基于单幅扫描电子显微镜图像的样品表面三维重建方法。该方法的特点是仅使用一幅由扫描电子显微镜从由单一元素组成的样品表面上方垂直拍摄的图像,通过分析图像中各个像素点的灰度特征就可以对由单一元素组成的样品的表面形貌进行三维重建。该方法包括:接受来自扫描电子显微镜的图像数据,分析图像灰度变化规律进行归一化处理,根据辐照度方程对归一化处理后的数据进行运算,得到各个点的空间位置并对三维重建结果进行三维可视化。
申请公布号 CN102930595B 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201210362683.6 申请日期 2012.09.25
申请人 南开大学 发明人 赵新;王琦琦;孙明竹
分类号 G06T17/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T17/00(2006.01)I
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人 侯力
主权项 一种基于单幅扫描电子显微镜图像的样品表面三维重建方法,其特征在于该方法包括:第1、扫描电子显微镜从样品上方垂直向下进行拍摄,计算机接受来自扫描电子显微镜的图像数据;第2、分析图像灰度变化特征,寻找整幅图像灰度的最小值作为图像特征值<img file="2012103626836100001dest_path_image001.GIF" wi="15" he="20" />;第3、使用图像特征值<img file="439034dest_path_image001.GIF" wi="15" he="20" />对扫描电子显微镜图像进行归一化处理,归一化时使用的公式如下所示:<img file="708604dest_path_image002.GIF" wi="131" he="22" />其中,<img file="2012103626836100001dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />是指扫描电子显微镜图像中正在进行归一化处理的像素点的横纵坐标,<img file="168404dest_path_image004.GIF" wi="52" he="23" />是指<img file="523424dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />点在扫描电子显微镜图像中的灰度值,<img file="2012103626836100001dest_path_image005.GIF" wi="52" he="23" />是指图像中<img file="726873dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />点对应的样品表面位置被扫描电子显微镜激发的电子数量的归一化值,对整幅图像依据这一公式进行运算,就能够得到样品表面被扫描电子显微镜激发的电子数量的归一化矩阵<img file="850949dest_path_image006.GIF" wi="17" he="18" />;第4、根据辐照度方程对电子数量的归一化矩阵A进行运算,进而得到各个点以像素为单位的空间位置坐标,随后根据扫描电子显微镜拍摄时所使用的比例尺将像素单位换算成实际长度单位,所使用的辐照度方程如下所示:<img file="2012103626836100001dest_path_image007.GIF" wi="244" he="30" />其中,<img file="747229dest_path_image008.GIF" wi="50" he="23" />是指图像中<img file="323967dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />像素点对应的样品表面位置的沿<img file="2012103626836100001dest_path_image009.GIF" wi="14" he="16" />方向的梯度,<img file="331106dest_path_image010.GIF" wi="49" he="23" />是指图像中<img file="309688dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />像素点对应的样品表面位置的沿<img file="2012103626836100001dest_path_image011.GIF" wi="16" he="18" />方向的梯度,<img file="376870dest_path_image012.GIF" wi="121" he="23" />是指根据电子激发的理论公式计算出来的图像<img file="440903dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />像素点对应样品表面位置被扫描电子显微镜激发的电子数量描述值;对于不同的<img file="986154dest_path_image008.GIF" wi="50" he="23" />和<img file="458724dest_path_image010.GIF" wi="49" he="23" />值可以根据公式得到不同<img file="198272dest_path_image012.GIF" wi="121" he="23" />值,所有点的<img file="248137dest_path_image012.GIF" wi="121" he="23" />与<img file="2012103626836100001dest_path_image013.GIF" wi="52" he="22" />间的差距总和越小就说明此时的<img file="98543dest_path_image008.GIF" wi="50" he="23" />和<img file="160040dest_path_image010.GIF" wi="49" he="23" />值越与实际相符合;当<img file="569025dest_path_image012.GIF" wi="121" he="23" />与<img file="607650dest_path_image013.GIF" wi="52" he="22" />间的差距总和最小时,即辐照度方程取得最小值时,即可得到各个点的空间位置;因此通过求取辐照度方程的最小值就可以获得扫描电子显微镜图像的三维重建结果,这一过程中所使用的电子激发的理论公式如下所示:<img file="635649dest_path_image014.GIF" wi="210" he="56" />其中<img file="2012103626836100001dest_path_image015.GIF" wi="151" he="22" />是指图像中<img file="567964dest_path_image003.GIF" wi="40" he="23" />像素点对应的样品表面位置的法向量,<img file="757637dest_path_image016.GIF" wi="18" he="25" />是指扫描电子显微镜进行拍摄时在所使用的扫描电子束的入射方向,由于扫描电子显微镜从样品上方垂直向下进行拍摄,所以<img file="2012103626836100001dest_path_image017.GIF" wi="89" he="25" />);对于图像中各个像素点都使用该电子激发的理论公式进行运算并带入辐照度方程,最终通过求取辐照度方程最小值来获得图像中各个像素点的高度,即得到各个点的空间位置;第5、对三维重建结果进行三维可视化显示。
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