| 发明名称 | 一种增强SERS信号的定量分析方法及其应用 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种增强SERS信号的定量分析方法，包括以下步骤：(1)在基片上钻圆锥孔或圆柱-圆锥孔；圆柱-圆锥孔是在圆锥孔的上方连接圆柱孔，且圆锥孔一端与圆柱孔一端相接；(2)在钻有步骤(1)所述孔的基片表面沉积纳米颗粒，得到增强基底；(3)利用增强基底结合内标法获取校正样本的SERS光谱数据；(4)在校正样本的SERS光谱数据与样本中待测物质浓度矢量c之间建立校正模型；(5)利用增强基底结合内标法获取待测样本的SERS光谱x<sub>test</sub>；采用校正模型计算出待测样本中待测物质的浓度。本发明的增强SERS信号的定量分析方法相比于平面增强基底，增强效果要强5～10倍，可以应用在痕量物质定量分析中。 | ||
| 申请公布号 | CN104502326A | 申请公布日期 | 2015.04.08 |
| 申请号 | CN201510002031.5 | 申请日期 | 2015.01.05 |
| 申请人 | 湖南大学 | 发明人 | 陈增萍;陈瑶;田中群 |
| 分类号 | G01N21/65(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
| 代理机构 | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人 | 马强 |
| 主权项 | 一种增强SERS信号的定量分析方法，包括以下步骤：(1)在基片上钻圆锥孔或圆柱‑圆锥孔；所述圆柱‑圆锥孔是在圆锥孔的上方连接圆柱孔，且圆锥孔一端与圆柱孔一端相接；(2)在钻有步骤(1)所述孔的基片表面沉积纳米颗粒，得到增强基底；(3)利用所述增强基底结合内标法获取校正样本的SERS光谱数据；(4)在校正样本的SERS光谱数据与样本中待测物质浓度矢量c之间建立校正模型；(5)利用所述增强基底结合内标法获取待测样本的SERS光谱x<sub>test</sub>；采用所述校正模型计算出待测样本中待测物质的浓度。 | ||
| 地址 | 410082 湖南省长沙市岳麓区麓山南路2号 | ||