发明名称 阿基米德螺旋线平面螺纹测量模型与其偏心参量修正方法
摘要 本发明公开了一种阿基米德螺旋线平面螺纹测量模型与其偏心参量修正方法。将被测平面螺纹与光栅盘中心对准放置,在平面螺纹测量点所在的平面上建立直角坐标系,测量获取一系列采样点;将各个采样点代入目标函数,采用泰勒级数展开方法对目标函数分解,再用Levenberg—Marquardt计算方法进行迭代处理,求得偏心参量、阿基米德螺旋线速率以及修正后的采样点。本发明提出的测量模型能够完整地反映偏心参量对阿基米德螺旋线平面螺纹测量的影响,其修正方法克服了目前普遍使用的测量模型存在的原理缺陷以及参数估计精度低的问题,降低了回转测量装置调心的准确度要求。
申请公布号 CN104504197A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201410802800.5 申请日期 2014.12.21
申请人 浙江省计量科学研究院 发明人 茅振华;叶欣;陈挺;周闻青;卢歆;毛晓辉;陈元杰;汪黎栋;吴春晖;单越康
分类号 G06F17/50(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 林超
主权项 一种含偏心参量的阿基米德螺旋线平面螺纹测量模型,其特征在于:在阿基米德螺旋线平面螺纹测量点所在的平面上建立直角坐标系,直角坐标系以回转中心为原点,所述测量模型包含被测试平面螺纹的偏心参量(Δx,Δy)、阿基米德螺旋线速率A与极角为0°时的极径B,具体为:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msqrt><msup><mrow><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><mi>&Delta;x</mi><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup><mo>+</mo><msup><mrow><mo>(</mo><msub><mi>y</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><mi>&Delta;y</mi><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup></msqrt><mo>=</mo><mi>A </mi><mi>arctan</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><msub><mi>y</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><mi>&Delta;y</mi></mrow><mrow><msub><mi>x</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><mi>&Delta;x</mi></mrow></mfrac><mo>+</mo><mn>2</mn><mi>&pi;k</mi><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mi>B</mi><mo>,</mo><mi>k</mi><mo>=</mo><mn>0,1,2</mn><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000639643430000011.GIF" wi="1335" he="143" /></maths>式中,(x<sub>i</sub>,y<sub>i</sub>)表示阿基米德螺旋线的采样点,(Δx,Δy)为直角坐标系下阿基米德螺旋线平面螺纹相对测量装置回转中心的偏心参量,A为阿基米德螺旋线速率,B为平面螺纹螺旋线在极角0°时的极径;k为采样点位于阿基米德螺旋线的圈数扣数。
地址 310013 浙江省杭州市西湖区天目山路222号
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