遥控器、温度取样装置及温度取样控制方法

摘要

本发明属于家电领域，尤其涉及一种温度取样装置、温度取样控制方法以及采用该温度取样装置的家电遥控器。本发明中的微处理器MCU通过设置其两个I/O端口分别为输出高电平、低电平或者输入状态，对电容分别进行充电和放电，并分别记录电容通过基准电阻R1和热敏电阻RT放电的时间t1及t2，通过公式RT＝R1*t2/t1计算出热敏电阻RT的阻值。优点就在于只需使用微处理器MCU的两个I/O端口，并且只在电容充电及放电取样时产生功耗，长时间地处于极低功耗状态。另外，此温度取样装置的电路结构简单、成本低，温度采样控制方法的可移值性也很强，可用于部分没有AD端口的微处理器MCU进行热敏电阻取样。

主权项

一种温度取样装置，其特征在于，所述温度取样装置包括微处理器MCU及其两个I/O端口、热敏电阻RT、基准电阻R1和电容C1；所述热敏电阻RT的第一端与所述微处理器MCU的第一I/O端口相连，所述基准电阻R1的第一端与所述微处理器MCU的第二I/O端口相连，所述热敏电阻RT的第二端和所述基准电阻R1的第二端同时接所述电容C1的第一端，所述电容C1的第二端接地。