发明名称 |
分光光度计 |
摘要 |
本发明的目的在于,通过有效地使用分光光度计的光源的光,延长光源的使用期间,降低装置的消耗功率。一种分光光度计,具有能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖、以及检测所述试样室盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元,并且能够对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制,所述分光光度计的特征在于,在试样设置指示状态下通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态后,将光源点亮,测定吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值,并将测定结果显示在数据显示部中。 |
申请公布号 |
CN104508440A |
申请公布日期 |
2015.04.08 |
申请号 |
CN201380040931.8 |
申请日期 |
2013.07.22 |
申请人 |
株式会社日立高新技术 |
发明人 |
和久井隆行;户边早人;中村孝一;山本浩司 |
分类号 |
G01J3/42(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/42(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
曾贤伟;曹鑫 |
主权项 |
一种分光光度计,具有能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖以及检测所述试样室盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元,能够对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制,所述分光光度计的特征在于,在试样设置指示状态下通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态后,将光源亮灯,测定吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值,并将测定结果显示在数据显示部中。 |
地址 |
日本东京都 |