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<p>예를 들어, IR 분광법 구성요소 및 라만 분광법 구성요소를 이용하는 광학적 분광계 검출을 위한 시스템 및 기술이 개시된다. 예를 들어, 시스템은 전자기적 스펙트럼의 제1 영역 내의 전자기적 복사선의 제1 부분으로 샘플을 조사하도록 구성된 제1 전자기적 복사선 공급원(예를 들어, IR 공급원) 및 전자기적 스펙트럼의 제2의 실질적으로 단색인 영역 내의 전자기적 복사선의 제2 부분으로 샘플을 조사하도록 구성된 제2 전자기적 복사선 공급원(예를 들어, 레이저 공급원)을 포함한다. 시스템은 또한 제1 전자기적 복사선 공급원과 연관된 샘플로부터 반사된 전자기적 복사선의 특성 및 제2 전자기적 복사선 공급원과 연관된 샘플로부터 반사된 전자기적 복사선의 특성을 분석하는 것에 의해서 샘플의 샘플 구성성분을 검출하도록 구성된 검출기 모듈을 포함한다.</p> |
