发明名称 |
一种X荧光光谱分析自动标定方法及标定装置 |
摘要 |
本发明公开了X荧光光谱分析自动标定方法及装置,包括XRF图谱横纵坐标标定及分析标定结果,通过将自动化技术利用两组已知元素混合物进行图谱横纵坐标的标定,同时利用已知元素与待测元素进行参照,并通过标定准确的图谱进行样品检测,不仅具有标定简便准确,同时也能够使结果更加精准;同时,本发明还公开了一种相应的标定装置,包括具有装有至少两种且种类已知的元素混合物的第一区域和装有作为内标元素的已知元素的第二区域的载板、动力装置以及可进行移动的联接装置;所述载板通过所述联接装置与所述动力装置联接,并在所述动力装置的运转下进行移动。 |
申请公布号 |
CN104502387A |
申请公布日期 |
2015.04.08 |
申请号 |
CN201410844217.0 |
申请日期 |
2014.12.31 |
申请人 |
江苏天瑞仪器股份有限公司 |
发明人 |
应刚;栾旭东;张苏伟;方军;吴升海 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种X荧光光谱自动分析标定方法,其特征在于,包括:步骤1 XRF图谱横纵坐标标定:将含有至少两种且种类已知的元素混合物的第一区域送至光谱扫描区进行扫描,将所述第一区域内已知元素峰较高或最高的元素固定在其特定通道上;利用所述第一区域内其他元素在谱图上的通道,并结合所述第一区域内所有元素的能量数据,获得相应的通道点,做图或进行曲线拟合,获得能量刻度曲线,确定不同通道对应的能量数据,实现XRF谱图横坐标的标定;同时测定所述第一区域内的所有元素的强度,与其标定强度比对,实现XRF谱图纵坐标的自动校准;步骤2 分析标定结果在扫描实际样品时,将包含已知元素种类及数量的内标元素的第二区域移动至样品上方,X射线通过第二区域照射到样品上,同时得到第二区域上元素和样品中元素含量,对扫描结果进行质控。 |
地址 |
215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园 |