发明名称 一种三维表面轮廓测量装置
摘要 本实用新型公开了一种三维表面轮廓测量装置。该装置包括光源、同轴照明观察装置、干涉物镜、面阵CCD相机、PZT、载物台。照明光路出射光朝向分光棱镜,分光棱镜的反射光朝向干涉物镜;PZT与干涉物镜依次同轴设置在分光棱镜的反射光轴方向上;干涉物镜与成像镜头设置在分光棱镜的两侧,构成干涉成像光路;面阵CCD相机设置在同轴照明观察装置的上方;干涉成像光路与照明光路通过分光棱镜衔接于一体,构成同轴照明观察装置;该三维表面轮廓测量装置结构简单,测量精度高。
申请公布号 CN204255304U 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201420712812.4 申请日期 2014.11.24
申请人 镇江超纳仪器有限公司(中外合资) 发明人 夏勇;周伟
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 张弛
主权项 一种三维表面轮廓测量装置,其特征在于:包括光源(1)、同轴照明观察装置、干涉物镜(4)、面阵CCD相机(6)、PZT(7)、载物台(9)、单色滤光片(11);同轴照明观察装置使用同轴落射式柯勒照明结构(2),包含沿照明光轴方向依次设置的集光镜(201)、反射镜(202)和聚光镜(203),实现对被测工件(8)的照明;同时同轴照明观察装置内藏分光棱镜(3)和焦距200mm的成像镜头(5);PZT(7)与干涉物镜(4)依次同轴设置在分光棱镜(3)的反射光轴方向上;干涉物镜(4)与成像镜头(5)设置在分光棱镜(3)的两侧,构成干涉成像光路;面阵CCD相机(6)设置在同轴照明观察装置的上方;干涉成像光路与照明光路通过分光棱镜(3)衔接于一体,构成同轴照明观察装置;载物台(9)设置在干涉物镜(4)的下方。
地址 212000 江苏省镇江市丁卯区智慧大道468号双子楼A座1809室