用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统

摘要

本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统，描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备，其包括：电磁辐射源，用于以光子激发样本；探测器，适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用，例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外，也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。

主权项

一种相关干涉测量光谱设备，包括：至少一个用于以光子激发样本的电磁辐射源；适于探测从电磁辐射源发射的光子的到达时间的一个或多个探测器，并且所述一个或多个探测器进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟；以及适于并且构建为将时间与来自电磁辐射源的发射关联起来的系统时钟。