多模终端综合测试仪的模式切换装置的信号处理方法

摘要

本发明涉及多模终端综合测试仪的模式切换装置，包括与待测试终端设备相连的高性能本振模块，其输入输出端依次通过射频通道模块、AD/DA转换器与全数字中频处理模块的输入输出端相连，全数字中频处理模块的输入输出端分别与TD-LTE系统模拟器、TD-LTE测量分析模块、TD-SCDMA系统模拟器、TD-SCDMA测量分析模块的输入输出端相连，时钟发生装置的输出端分别与模式切换开关、AD/DA转换器的输入端相连，模式切换开关的输出端与全数字中频处理模块的输入端相连。本发明还公开了多模终端综合测试仪的模式切换装置的信号处理方法。当测量信号模式改变时，只需切换模式切换开关，就可以切换采样时钟和对应的系统模拟器，对当前数据进行处理，完成模式的快速切换，从而进行快速测量。

主权项

一种多模终端综合测试仪的模式切换装置的信号处理方法，该方法包括：并行上行信号数据产生处理方法：待测试终端设备发送的射频信号通过高性能本振模块进行第一和第二混频，转换成模拟中频信号，射频通道模块完成对模拟中频信号进行增益控制、滤波和带宽限制，A/D转换器将模拟中频信号转换成数字中频信号，全数字中频处理模块对数字中频信号进行变频、变采样、数字滤波以及数字增益控制；时钟发生模块通过时钟分配器产生122.88MHz的参考时钟来产生不同的工作时钟，在全数字中频处理模块的FPGA控制器内部进行多速率数字信号分配，生成30.72Msps和1.28Msps的采样数据分别传送给TD‑LTE系统模拟器和TD‑SCDMA系统模拟器进行信令处理，生成122.88Msps和7.68Msps的采样数据分别传送给TD‑LTE测量分析模块和TD‑SCDMA测量分析模块进行分析测量，所有测量分析数据根据模式切换开关选择的模式在控制/显示模块上显示；并行下行信号数据产生处理方法：TD‑SCDMA系统模拟器产生扩频、加扰、子帧形成并经过实虚分离后生成码元速率为1.28 Msps I/Q数据，然后进行数字上变频、合路后再进行基带输出； TD‑LTE系统模拟器产生调制映射后码元速率为30.72 Msps的基带数据，基带数据经过低通插值滤波处理生成614.4MHz数字中频信号，经过D/A转换器生成模拟中频信号，然后经过射频通道模块进行混频和增益控制，再经过高性能本振模块进行混频，输出射频信号供待测试终端设备使用。