| 摘要 |
<p>본 발명의 일 실시예에 따른 IC칩 리더기는 IC칩 리더기에 있어서, 상기 IC칩과 접촉하여 데이터를 리드하는 컨택부, 상기 컨택부의 리드 결과가 리드 오류인 경우 상기 컨택부와 접촉하여 상기 컨택부의 정상 동작여부를 테스트하는 테스트부, 및 상기 컨택부 및 테스트부의 동작을 제어하고, 상기 컨택부로부터 테스트 데이터를 전달받아 상기 리드 오류의 원인을 판단하는 제어부를 포함한다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 IC칩 리더기 및 그것의 동작 방법은 IC칩 리드 오류 발생 시에 오류의 원인을 용이하게 파악할 수 있다.</p> |
