发明名称 SELF-ALIGNED STRUCTURES AND METHODS FOR ASYMMETRIC GAN TRANSISTORS & ENHANCEMENT MODE OPERATION
摘要 실시예들은 HEMT(High Electron Mobility Transistor)들을 포함한다. 실시예들에서, 게이트 전극은 소스 및 드레인 반도체 영역으로부터 상이한 거리들 만큼 이격되어 높은 항복 전압 및 낮은 온-스테이트 저항을 제공한다. 실시예들에서는, 자기-정렬 기술들이 적용되어 트렌치들 내에 및 그 사이의 심축 위에 유전체 라이너를 형성하고, 이는 단일 마스킹 작업으로 게이트 길이, 게이트-소스 길이 및 게이트-드레인 길이를 독립적으로 정의한다. 실시예들에서, III-N HEMT들은 임계 전압 튜닝 및/또는 상승 모드 동작을 위해 불소 도핑된 반도체 장벽층들을 포함한다.
申请公布号 KR20150036756(A) 申请公布日期 2015.04.07
申请号 KR20157004723 申请日期 2013.06.12
申请人 인텔 코포레이션 发明人 다스굽타, 산사프타크;텐, 한 위;라도사블예비치, 마르코;무케르지, 닐로이;고엘, 니티;카베히에, 사나즈;성, 승 훈;필라리세티, 라비;차우, 로버트 에스.
分类号 H01L29/08;H01L29/20;H01L29/423;H01L29/66;H01L29/778 主分类号 H01L29/08
代理机构 代理人
主权项
地址