发明名称 一种降低辐射成像系统检测剂量的方法
摘要 本发明公开了一种降低辐射成像系统检测剂量的方法,所述系统包括射线源、前准直器、阵列探测器,前准直器与阵列探测器之间为供待检物体通过的检测通道,前准直器将射线源发出的射线准直成片状扇形束,该片状扇形束穿过检测通道后由阵列探测器接收并成像,所述片状扇形束到达对应阵列探测器中每个探测器入射窗时的全影区宽度都与该探测器射线入射窗的宽度相匹配。本发明通过前准直器使片状扇形束全影区宽度与探测器射线入射窗宽度相匹配,既有效利用了全影区射线来扫描成像,减少了进入探测器的无用射线,保证了图像质量,又尽可能减少了照射到被检物体上的射线数量,从而降低检测剂量。
申请公布号 CN104502944A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201410818725.1 申请日期 2014.12.25
申请人 清华大学 发明人 李立涛;王立强;谈春明;童建民;黄毅斌;刘金汇;王振涛;郭肖静;邢桂来;郑健
分类号 G01T1/08(2006.01)I 主分类号 G01T1/08(2006.01)I
代理机构 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人 尹振启
主权项 一种降低辐射成像系统检测剂量的方法,所述系统包括射线源、前准直器、阵列探测器,前准直器与阵列探测器之间为供待检物体通过的检测通道,前准直器将射线源发出的射线准直成片状扇形束,该片状扇形束穿过检测通道后由阵列探测器接收并成像,其特征在于,所述片状扇形束到达对应阵列探测器中每个探测器入射窗时的全影区宽度都与该探测器射线入射窗的宽度相匹配。
地址 100084 北京市海淀区清华园1号